収束電子回折法によるナノスケール点欠陥解析法の開発と点欠陥誘起物性への応用 ＜科学研究費補助金(基盤研究C)研究成果報告書＞

書籍データ

平成17年度〜平成18年度科学研究費補助金(基盤研究(C))研究成果報告書(課題番号17510083)

著者名：津田健治研究代表者他の作品を見る

出版社：津田健治

発売日：2007.5

1冊 30cm

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