半導体エレクトロニクス〜の在庫検索結果 / 日本の古本屋

半導体エレクトロニクス＜岩波講座　物理の世界　物質科学の発展4＞

[書影]

明倫館書店
東京都千代田区神田神保町

￥600

石原宏、岩波書店、2006年3刷、85、B6ペーパ、1冊

カバー薄ヤケ・少シミ・擦れ有、本文は概ね良好。

半導体エレクトロニクス＜岩波講座　物理の世界　物質科学の発展4＞

[書影]

￥600

石原宏、岩波書店、2006年3刷、85 、B6ペーパ、1冊

カバー薄ヤケ・少シミ・擦れ有、本文は概ね良好。

明倫館書店

半導体エレクトロニクス＜岩波講座物理の世界 / 佐藤文隆ほか編物質科学の発展 4＞

かぼちゃ堂
福岡県福岡市早良区早良

￥2,000 （送料：￥200～）

石原宏著、岩波書店、85p、20cm

初版カバー

半導体エレクトロニクス＜岩波講座物理の世界 / 佐藤文隆ほか編物質科学の発展 4＞

￥2,000 （送料：￥200～）

石原宏著、岩波書店、85p 、20cm

初版カバー

かぼちゃ堂

現代物理学の眼

水たま書店　桜井店
奈良県桜井市安倍木材団地2-6-6

￥2,000 （送料：￥300～）

日本物理学会編、東京大学出版会、1962年、19cm、1冊

カバー。「熊谷寛夫」による鉛筆記名。カバー擦れ・汚れ。本文角にイタミ。日焼。茶シミ・汚れ。

※領収書ご希望の方は注文時にお知らせ下さい(必要事項も含めて)。 ※公費でお支払いの方はご注文時に「◎書類のお宛名◎必要書類(納品書・請求書等)◎日付の有無◎送料を別記するか・含むか」をお知らせ下さい。遠方倉庫に在庫している書籍も多数ございますので、複数ご注文の場合は発送まで2～3日かかる場合がございます。

現代物理学の眼

￥2,000 （送料：￥300～）

日本物理学会編、東京大学出版会、1962年、19cm 、1冊

カバー。「熊谷寛夫」による鉛筆記名。カバー擦れ・汚れ。本文角にイタミ。日焼。茶シミ・汚れ。

水たま書店　桜井店

【英語洋書】表面計測 (表面測定) 『Surfaces and their measurement』

アブストラクト古書店
京都府八幡市男山指月

￥2,480

David Whitehouse、Hermes Penton Science、2002年初版、xi,･･･

【ハードカバー】2002年初版。カバー付属。
カバー端に微スレ、天に数点の微シミがありますが、それ以外は特に問題はありません。

●目次
1. What is surface metrology? 2. Measurement of surfaces. 3. Profile parameter characterisation. 4. Surfaces in manufacture. 5. Function and surface texture. 6. Surface finish instrumentation. 7. Stylus instruments. 8. Optical methods. 9. Scanning microscopes. 10. Errors of form. 11. Roundness and related subjects. 12. Cylindricity, sphericity etc. 13. Instrument design for minimum error. 14. Calibration of instruments. 15. Sampling, numerical analysis, display. Glossary.

■送料：全国一律520円

商品の価格、重量に応じゆうメール,ゆうパケット,レターパック,ゆうパックのいずれかで発送致します。送料のご負担をお願い致します。弊店は適格請求書発行事業者です。インボイス制度対応の書類を発行致します。原則、先払いをお願いしておりますが、公費購入(後払い)も承っております。海外発送にも対応しております。

【英語洋書】表面計測 (表面測定) 『Surfaces and their measurement』

￥2,480

David Whitehouse 、Hermes Penton Science 、2002年初版、xi, 395 p., xvi p. of plates 、24 cm

【ハードカバー】2002年初版。カバー付属。カバー端に微スレ、天に数点の微シミがありますが、それ以外は特に問題はありません。 ●目次 1. What is surface metrology? 2. Measurement of surfaces. 3. Profile parameter characterisation. 4. Surfaces in manufacture. 5. Function and surface texture. 6. Surface finish instrumentation. 7. Stylus instruments. 8. Optical methods. 9. Scanning microscopes. 10. Errors of form. 11. Roundness and related subjects. 12. Cylindricity, sphericity etc. 13. Instrument design for minimum error. 14. Calibration of instruments. 15. Sampling, numerical analysis, display. Glossary. ■送料：全国一律520円

アブストラクト古書店