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波形計測によるX線半導体検出器の高精度検出時刻測定

波形計測によるX線半導体検出器の高精度検出時刻測定

書籍データ

平成13-14年度科学研究費補助金(基盤研究(C)-(2))研究成果報告書

著者名:研究代表者 木村吉秀他の作品を見る

出版社:木村吉秀

発売日:2003.3

vi, 51, 22, 14p 30cm

ISBN:

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