光学超薄膜を用いた軟X線干渉計測法の開発と精密結像鏡の反射波面計測制御への応用 ＜科学研究費補助金(基盤研究(A)(2))研究成果報告書＞

書籍データ

著者名：研究代表者 山本正樹他の作品を見る

出版社：山本正樹

発売日：2002.3

1冊 30cm

ISBN：