二川清著〜の在庫検索結果 / 日本の古本屋

はじめてのデバイス評価技術。第２版

古書苑にしき
東京都江戸川区宇喜田町

￥1,720

二川清。著、森北出版、２０１２年第２版第１刷発行、１７９、Ａ５版、１

未講読・未使用の美本。カバ－付き。

はじめてのデバイス評価技術。第２版

￥1,720

二川清。著、森北出版、２０１２年第２版第１刷発行、１７９、Ａ５版、１

未講読・未使用の美本。カバ－付き。

古書苑にしき

LSIの信頼性＜信頼性技術叢書＞

藤原書店
東京都文京区湯島

￥2,200 （送料：￥300～）

二川清編著、塩野登・横川慎二・福田保裕・三井泰裕著、日科技連出版社、2010年10月第1刷、18･･･

日焼け有。カバー角縁に少傷み有。その他の状態は本文共に概ね良好です。

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LSIの信頼性＜信頼性技術叢書＞

￥2,200 （送料：￥300～）

二川清編著、塩野登・横川慎二・福田保裕・三井泰裕著、日科技連出版社、2010年10月第1刷、183頁、A5判、1冊

日焼け有。カバー角縁に少傷み有。その他の状態は本文共に概ね良好です。

藤原書店

はじめてのデバイス評価技術＜ビギナーズブックス 9＞

浪漫古書店
大阪府高槻市北園町

￥610

二川清著、工業調査会、2000.1、242p、21cm

並装　カバー　書き込みなど一切無し。[保存：良]。

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