文字サイズ

  • 小
  • 中
  • 大

古書を探す

「Wayne B. Nelson」の検索結果
1件

Accelerated Testing : Statistical Models, Test Plans, and Data Analysis

ヨウキ書店
 埼玉県草加市谷塚上町
8,800
Wayne B. Nelson、Wiley、1990、601+14p、A5判、送料600円
【大学除籍本】に付きシールや蔵印・除籍印等があります。カバー付き、Hardback、表面に保護フィルム、扉にカバーの折り返し部分の記事を貼付。 1ヵ所余白部に少キズ(糊補修あり)がありますが、それ以外は特に問題はありません。
記載の送料は国内発送のみ、複数冊ご注文の場合は1梱包で別途計算します。 海外発送の場合は実費。代引きご希望の場合は1冊でも宅配便(実費)の利用。 *送料600円以上の場合はレターパックプラス又は宅配便で発送。  *定休日: 水・金・日曜日   *営業時間: 10:00~15:30
かごに入れる
気になる本に追加
クレジットカード使用可 銀行振込可 代引き可 公費可 海外発送可 適格請求

Accelerated Testing : Statistical Models, Test Plans, and Data Analysis

8,800
Wayne B. Nelson 、Wiley 、1990 、601+14p 、A5判 、送料600円
【大学除籍本】に付きシールや蔵印・除籍印等があります。カバー付き、Hardback、表面に保護フィルム、扉にカバーの折り返し部分の記事を貼付。 1ヵ所余白部に少キズ(糊補修あり)がありますが、それ以外は特に問題はありません。

お探しの古書は見つかりましたか?

在庫検索から見つからなかった場合は、書誌(カタログ)からも検索できます。
お探しの古書が登録されていれば、在庫が無い本や条件に合わない本についても、こちらからリクエストを行うことができます。
書誌(カタログ)から探す

日本国際博覧会開催 - 昭和開催から55年、博覧会の記憶

米マイクロソフト社50年 - IT-情報技術の源流

反省記
反省記
¥1,000