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「高分解能電子顕微鏡を用いた回折コントラスト法による微小点欠陥集合体の解析」の検索結果

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高分解能電子顕微鏡を用いた回折コントラスト法による微小点欠陥集合体の解析

高分解能電子顕微鏡を用いた回折コントラスト法による微小点欠陥集合体の解析

平成4年度科学研究費補助金(一般研究(C))成果報告書 : 課題番号 03805057 高分解能電子顕微鏡を用いた回折コントラスト法による微小点欠陥集合体の解析

義家敏正研究代表、義家敏正、1993.3

98p 30cm

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