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中性子ひずみスキャンニング法を基にした疲労寿命予測システムの開発に関する研究
平成12年度〜平成14年度科学研究費補助金(基盤研究(B)(2))研究成果報告書
田中啓介[ほか著]、者不明、2003.3
v, 86p 30cm