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Experimental Techniques for Low-Temperature Measurements: Cryostat Design Material Properties And Superconductor Critical-Current Testing

Experimental Techniques for Low-Temperature Measurements: Cryostat Design Material Properties And Superconductor Critical-Current Testing
[書影]
ノースブックセンター
 東京都八王子市越野　8-23
￥25,240 （送料：￥350～）
Ekin Jack W.、Oxford Univ Pr on Demand、2006年12月7日、6･･･
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Experimental Techniques for Low-Temperature Measurements: Cryostat Design Material Properties And Superconductor Critical-Current Testing

￥25,240 （送料：￥350～）
Ekin Jack W. 、Oxford Univ Pr on Demand 、2006年12月7日 、673 、hardcover
▼ 東京より発送▼ 全体的に使用感・スレキズ・薄ヤケ・薄汚れ・シミ少々
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